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全角度光谱测量台

简要描述:

RTM-VA全角度光谱测量台可以搭配光谱仪、光源及其他测量附件,可以对材料进行不同角度入射和接收的光谱测量,适用于各种表面平整的样品光谱测量。采用电控独立双轴设计,高精度步进电机控制发射端和接收端的角度,角分辨率达0.05°。

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全角度光谱测量台

材料中的很多成份,以不同角度入射,得到的透射率和反射率会因入射角度变化而变化。通过测量不同角度入射,研究材料的最敏感角度,为进一步研究或设计测量仪器提供依据。

RTM-VA全角度光谱测量台可以搭配光谱仪、光源及其他测量附件,可以对材料进行不同角度入射和接收的光谱测量,适用于各种表面平整的样品光谱测量。采用电控独立双轴设计,高精度步进电机控制发射端和接收端的角度,角分辨率达0.05°。光谱范围220-2500nm(可选择不同配置),电脑软件选择发射端和接收端的角度,实现快速的光谱测量,能够满足透射/反射/散射/荧光/辐射等多种模式的全角度光谱测量应用的需求。

入射端带有一个旋转偏振片架和一个滤波片架,可以放置一个偏振片和滤波片。接收端带有一个滤波片架,可以放置一个滤波片、偏振片或者波片。各种波长的范围的偏振片、滤波片和波片可供选择。

 

应用领域

LED光源等

材料镀膜

光子晶体器件

液晶显示

传感器器件制备

角度材料相关分析

纳米光学材料

 

主要特点

全角度测量:发射端角度范围0°至180°,接收端角度范围0°至360°,可以实现反射、透射、散射、荧光和辐射的全角度光谱测量。

精确角度控制:高精度电机,角度精度及重复性能优异。

多光谱测量模式:可以实现上反射、下反射、透射、散射/荧光、辐射等多种光谱测量。

可编程测量模式:可以通过编程,来实现自动多角度光谱测量。

自由测量模式:可以任意控制样品台的入射角、接收角,实现光谱测量。

可选配件多样:根据客户的不同测量应用,可以选择不同的光源、滤光片、偏振片等配件完成不同的测量应用。

多维调节样品台:样品台由高精度三维位移台和二维倾斜台组成,可实现样品的五维正交调节。

 

光谱角度测量模式

反射测量(上反射/下反射)模式 透射测量模式
散射/荧光测量械 辐射测量模式

 

参数指标

参数指标
参数/型号 RTM-VA RTM-VAS
光谱范围 360-2500nm 360-2500nm
光源 含钨灯光源 含钨灯光源和积分球
光斑大小 最小3mm 最小5mm
入射角范围 0-180° 0-180°
接收角范围 0-360° 0-180°
角度分辨率 0.1°
测量对象 平面样品、发光样品 镜面样品、曲面样品
应用 反射、透射、散射、荧光测量 反射率、透过率测量

可选配件

紫外扩展模块
RTM-UV 250-2500NM
光谱仪
USB2000+ 350-1000nm
QEPRO 350-1100nm
NIRQUEST 900-2500nm
光源
DH-2000 220-2500nm
偏振片
PLine-UV  
PLine-VIS-A 400-700nm
PLine-VIS-B 600-1100nm
PLine-NIR-A 1050-1700nm